芯片老化测试系统招标公告

芯片老化测试系统招标公告 项目所在地区：湖北省武汉市洪山区 1. 招标条件 本招标项目 芯片老化测试系统 （项目名称） （项目编号：0730-2611010620/01） 招标人为 武汉航空仪表有限责任公司 ，招标项目资金已落实。本项目已具备招标条件，现对 芯片老化测试系统 （设备名称） 采购进行公开招标。 2. 项目概况与招标范围 2.1 项目名称： 芯片老化测试系统。 2.2 设备名称： 芯片老化测试系统。 2.3 数量： 壹套 。 2.4 招标文件简要技术规格： 规格组成： 芯片老化测试系统壹套，包含：芯片老化设备肆套（每套配额外50%鱼骨夹具）；芯片测试设备（常温）肆套、芯片测试设备（低温）肆套 。 总体要求： 一、 芯片老化设备 *1. 设备需满足产能需求，单机工位在3840个工位及以上 。 *2. 采用pogo pin 加电，一次压接成功率＞99%。 *3.